• Deep Inspection Collatio

    比較検査の3ステップ

  • Deep Inspection Collatioで出来ること

    印刷物や半導体基盤等の多品種小ロットの比較検査

    見過ごし・過検出を大幅に抑制し検査出来ます。

  • 最新の技術を、いち早く生産ラインへ

    Deep Learningを用いた柔軟な予測モデルと、高い画像認識精度の実現

     

    敢えてパッケージにしない

    お客様の状況に応じた最適な手法の提案

    弊社のお客様から、一度パッケージ製品を試されたが上手く機能しなかったというお話をよくお聞きします。

    我々はDeep Learningのエキスパートとして、最新のアルゴリズムを御社の識別対象とハードウェアために設計し課題に対処します。

    まずはお試しテストから

    最新のアルゴリズムを体験ください​

    お試しテストから、気軽に最新のDeep Learningアルゴリズムに触れてみてください。

    数十枚のデータからでも、従来より精度が40%ほど向上したお客様の例もございます。

    現場への実装までサポート

    既存モジュールと置き換え可能な場合も

    予測モデル作成後は、現場で使えるようにサポート致します。既に検査・分類機器をお持ちの場合は、お持ちの機器内のモジュールを置き換えることで対応可能な場合もございます。

  • お問い合わせ

    大手印刷会社や検査機器メーカーなどと、この技術の導入を検討しています。

    広い分野への展開を目指しております。興味あれば是非ご連絡頂ければと思います。

    東京都目黒区目黒2-11-3